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第九届中国二次离子质谱会议举办
第九届 二次离子 质谱
2023/12/12
2023年10月11日至14日，第九届中国二次离子质谱会议（SIMS China IX）在沈阳举行。本次会议由中国二次离子质谱会议组委会主办，中国科学院金属研究所、沈阳材料科学国家研究中心承办。
面向动态表界面分析的原位液相二次离子质谱新技术研究获进展（图）
动态表界面分析 原位液相 二次离子 质谱新技术
2023/8/23
表界面化学是能源、环境和生命等前沿科学领域的核心。在分子水平上表征表界面化学，对阐明上述领域关键科学问题的化学本质具有重要意义。然而，表界面层极薄、其物种复杂性及高度动态性，对化学测量学提出了挑战。飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）是迅速发展的先进表界面分析技术。而作为基于高真空环境的分析技术，SIMS难以直接分析涉及到液体的表界面。
表界面化学是能源、环境和生命等前沿科学领域的核心。在分子水平上表征表界面化学对阐明上述科学领域关键科学问题的化学本质具有重要的意义。但是，表界面层极薄、其物种复杂性及高度动态性对化学测量学提出了巨大挑战。飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）是近年来得以迅速发展的先进表界面分析技术。然而，作为一种基于高真空环境的分析技术，SIMS难以直接分析涉及到液体的表界面。
2023年2月10日，由中国科学院海洋研究所牵头承担的国家重点研发计划“基础科研条件与重大科学仪器设备研发”重点专项“高分辨率二次离子质谱仪研制”项目启动暨实施方案论证会在青岛召开，海洋所党委书记王辉出席会议并致辞。科技部21世纪议程管理中心资源处处长裴志永、主管张望，中国科学院前沿科学与教育局主管赵楠，项目特邀评审专家以及项目和各课题负责人等80余人通过线上/线下参加会议。
第七届中国二次离子质谱会议
第七届 中国二次离子质谱 会议
2018/1/11
第七届中国二次离子质谱会议将于2018年10月9-12日在江苏省苏州市召开。本次会议由中国真空学会主办，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米真空互联实验站承办。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用，会议组委会热忱欢迎中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的专家学者和研究生前来参会，共襄盛举。
第六届中国二次离子质谱会议（二轮通知）（图）
第六届 中国二次离子质谱 会议 二轮
2016/8/22
第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所（地址详见附件1）举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术 研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质 谱相关工作的同仁相聚美丽海滨城市大连，展示最新的研究成果，共同推动中国二次离子质谱的发展。
第六届中国二次离子质谱会议（第一轮通知）
离子质谱 质谱成像数
2016/7/26
第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所（地址详见附件1）举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的同仁相聚美丽海滨城市大连，展示最新的研究成果，共同推动我国二次离子质谱的发展。会议热诚欢迎国内外相关厂...
第五届中国二次离子质谱学会议在北京召开
第五届 中国二次离子质谱学 会议
2014/11/13
2014年10月18至21日，第五届中国二次离子质谱学会议在中国科学院地质与地球物理研究所召开。本次会议由中国矿物岩石地球化学学会微束分析测试专业委员会发起，中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室承办，来自国内外39个单位的150余名代表参加了大会。我所宋谢炎、秦朝建、唐永永3位老师及博士后赵成海参加了此次会议。
二次离子质谱仪测量的元素深度分布曲线受离子注入引发的原子混合、坑壁、晶体取向以及表面粗糙度等因素的影响, 使得实测曲线偏离真实元素分布曲线. 通过测量扩散退火前溶质原子在样品中的分布曲线, 即“零曲线”,可以表征各种因素的综合效果. 本文提出一种使用Fourier级数解卷积的方法有效地从实测曲线中分离“零曲线”的影响, 得到元素的真实分布曲线的方法.并利用此法分析了Zn在粗晶Cu及用动态塑性变形方...
飞行时间二次离子质谱在生物材料和生命科学中的应用
飞行时间二次离子质谱 结构鉴定 蛋白质吸附 表面化学改性 生物降解高分子
2013/9/25
摘要 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）成为材料表面化学分析越来越重要的手段，随着分析仪器性能的不断提高，尤其是团簇离子源的发明和使用，使得TOF-SIMS在生物材料和生命科学研究中能够更接近常规性地被使用。它可以用来鉴定表面的生物分子，并且描述生物分子在单细胞表面和内部及组织切片上的二维分布。TOF-SIMS的主要测试功能包括表面质谱，化学成像及深度剖析3种。本综述（分上、下两篇）围绕这3...
二次离子质谱的一次离子光学系统
二次离子质谱仪 一次离子光学系统 离子束流密度 离子束斑
2013/9/24
二次离子质谱仪作为一种强大的表面分析工具，在表面分析领域有着非常广泛的应用。本文报道了一种用于二次离子质谱仪的一次离子光学系统，它可以对电子轰击电离源产生的一次离子进行有效的加速与聚焦，形成稳定的、能量在0~5 kV范围内连续可调的离子束流。同时，该光学系统可以在两种聚焦模式下工作，产生两种不同性能的离子束流。实验结果表明，采用电子轰击电离源作为一次离子源的条件，该离子光学系统能够将离子束聚焦至直...
2011年2月21至22日，由国家质检总局科技司委托组成的测试专家组，对中科院大连化学物理研究所承担的“十一五”国家科技支撑计划项目课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”中的子课题“角反射飞行时间质量分析器”进行了现场考核与测试。验收专家组组长由北京中国航天员科研训练中心刘学博研究员担任，成员包括中国科学院北京科学仪器研制中心于科岐研究员、中国计量科学研究院赵墨田研究员、大连理工大学...
香烟燃烧挥发颗粒物的二次离子质谱分析研究(英文)
二次离子质谱 香烟 室内气溶胶 污染检测
2009/4/7
在室内气氛中,吸烟释放出的颗粒物是倍受关心的污染源之一。本工作运用高性能静态二次离子质谱（TOF SIMS）实验研究了模拟吸烟释放的气溶胶颗粒物中的有机污染物。证实了其中含有氮杂环化合物和多环芳烃。从而初步表明,二次离子质谱在快速表征室内环境污染物方面具有潜在运用价值。